دشتی.رحمن
مکانیابی خطا در شبکههای توزیع با استفاده از ترکیب روش امپدانسی و فرورفتگی ولتاژ
[
دوره15,
شماره
1
,
1
- بهارسال
1396]
دیدبان.داریوش
آنالیز و گسترش مدل فشرده زمان تأخیر انتشار گیتهای NAND فناوری CMOS نانومتری در مقابل تغییرات آماری فرآیند ساخت
[
دوره15,
شماره
4
,
1
- زمستانسال
1396]
دیسی.محمد
مکانیابی خطا در شبکههای توزیع با استفاده از ترکیب روش امپدانسی و فرورفتگی ولتاژ
[
دوره15,
شماره
1
,
1
- بهارسال
1396]