مرکز منطقه ای اطلاع رسانی علوم و فناوری فصلنامه مهندسی برق و مهندسی کامپيوتر ايران 16823745 23 2 2025 12 13 Enhanced Automatic Test Pattern Generation Using PSO-FAN Algorithm تولید الگوی آزمون خودکار پیشرفته با استفاده از الگوریتم PSO-FAN 127 137 fa سید حمید ظهیری university of Birjand احسان حق پرست دانشگاه بیرجند ابوالفضل بیجاری دانشگاه بیرجند 2025 1 2 <p style="text-align: left;">The domain of Very Large Scale Integrated (VLSI) circuit testing has experienced advancements in methodologies for fault detection, which are crucial for addressing the complexities of modern applications. Traditional testing techniques frequently fall short in achieving precise fault localization, highlighting the necessity for the development of enhanced methodologies. This paper endeavors to investigate the implementation of an optimized test generation algorithm aimed at improving testing efficiency and increasing fault coverage. In this study, we utilized a (PSO)-enhanced FAN (fan-out-oriented algorithm) applied to ISCAS'89 benchmark circuits. The optimization process involved refining the decision trees utilized in the FAN algorithm through a rigorously defined cost function, which strikes a balance between accuracy, complexity, and operational efficiency. The results indicate improvement in both fault coverage and detection efficiency. Furthermore, the optimization process resulted in a reduction of required test vectors, thereby enhancing testing efficiency, particularly in high-volume production environments. The study also introduces the development of diagnostic metrics that provide deeper insights into circuit failures and proposes design-for-testability techniques to improve reliability. The integration of PSO within the FAN algorithm not only facilitates the generation of robust test solutions but also produces high-quality test vectors.</p> <p>حوزه آزمایش مدارهای یکپارچه با مقیاس بسیار بزرگ (VLSI) در سال&zwnj;های اخیر پیشرفت&zwnj;های قابل توجهی در روش&zwnj;های تشخیص خطا تجربه کرده است، به طوری که این پیشرفت&zwnj;ها در کاربردهای پیچیده اهمیت فراوانی یافته&zwnj;اند. هرچند که روش&zwnj;های سنتی برای شناسایی مدارهای سالم و معیوب کارآمد هستند، اما معمولاً در تشخیص دقیق انواع مختلف خطا محدودیت&zwnj;هایی دارند. این مقاله به بررسی پیاده&zwnj;سازی یک الگوریتم بهینه&zwnj;سازی شده به نام FAN (الگوریتم تولید تست مبتنی بر خروجی) می&zwnj;پردازد که با استفاده از تکنیک بهینه&zwnj;سازی ازدحام ذرات (PSO) بر روی مدارهای معیاری ISCAS'89 انجام شده است. نتایج حاصل از این مطالعه نشان&zwnj;دهنده بهبود در پوشش خطا و افزایش دقت تشخیص می&zwnj;باشد. به علاوه، این بهینه&zwnj;سازی منجر به کاهش تعداد بردارهای آزمایشی مورد نیاز گردیده است که در نتیجه کارایی آزمایش را در شرایط تولید با حجم بالا افزایش می&zwnj;دهد. این تحقیق بر اهمیت توسعه معیارهای تشخیصی به منظور درک بهتر عیوب مدار تأکید می&zwnj;کند و به&zwnj;کارگیری تکنیک&zwnj;های طراحی که قابلیت آزمایش را تقویت کند، پیشنهاد می&zwnj;نماید. استفاده از PSO در الگوریتم FAN، نشان&zwnj;دهنده پتانسیل بالای این روش در فرآیند تولید تست است و موجب برقراری تعادلی مناسب بین دقت، پیچیدگی و کارایی عملیاتی می&zwnj;شود.</p> تولید خودکار الگوی آزمون، بهینه سازی، مدارات VLSI، الگوریتم های فراابتکاری، الگوریتم FAN http://ijece.org/en/Article/Download/49064