﻿<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<ArticleSet>
  <ARTICLE>
    <Journal>
      <PublisherName>مرکز منطقه ای اطلاع رسانی علوم و فناوری</PublisherName>
      <JournalTitle>فصلنامه مهندسی برق و مهندسی کامپيوتر ايران</JournalTitle>
      <ISSN>16823745</ISSN>
      <Volume>18</Volume>
      <Issue>1</Issue>
      <PubDate PubStatus="epublish">
        <Year>2020</Year>
        <Month>4</Month>
        <Day>2</Day>
      </PubDate>
    </Journal>
    <ArticleTitle>Improvement in Electrical Characteristics of Silicon on Insulator Junctionless Field Effect Transistor  (SOI-JLFET) Using the Auxiliary Gate</ArticleTitle>
    <VernacularTitle>استفاده از گیت کمکی برای بهبود مشخصات الکتریکی ترانزیستور اثر میدان بدون پیوند سیلیکون بر روی عایق</VernacularTitle>
    <FirstPage>67</FirstPage>
    <LastPage>72</LastPage>
    <ELocationID EIdType="doi" />
    <Language>fa</Language>
    <AuthorList>
      <Author>
        <FirstName>مهدی</FirstName>
        <LastName>وادی‌زاده</LastName>
        <Affiliation></Affiliation>
      </Author>
    </AuthorList>
    <History PubStatus="received">
      <Year>2019</Year>
      <Month>3</Month>
      <Day>4</Day>
    </History>
    <Abstract>Silicon on insulator junctionless field effect transistor (SOI-JLFET) includes a single type doping at the same level in the source, channel, and drain regions. Therefore, its fabrication process is easier than inversion mode SOI-FET. However, SOI-JLFET suffers from high subthreshold slope (SS) as well as high leakage current. As a result, the SOI-JLFET device has limitation for high speed and low power applications. For the first time in this study, use of the auxiliary gate in the drain region of the SOI-JLFET has been proposed to improve the both SS and leakage current parameters. The proposed structure is called "SOI-JLFET Aug". The optimal selection for the auxiliary gate work function and its length, has improved the both SS and ION/IOFF ratio parameters, as compared to Regular SOI-JLFET. Simulation results show that, SOI-JLFET Aug with 20nm channel length exhibits the SS~71mV/dec and ION/IOFF~1013. SS and ON-state to OFF-state current (ION/IOFF) ratio of SOI-JLFET Aug are improved by 14% and three orders of magnitudes, respectively, as compared to the Regular SOI-JLFET. The SOI-JLEFT Aug could be good candidate for digital applications.</Abstract>
    <OtherAbstract Language="FA">در ترانزیستورهای اثر میدان بدون پیوند سیلیکون بر روی عایق (SOI-JLFET)، آلایش سورس- کانال- درین از یک سطح و یک نوع است. بنابراین فرایند ساخت آنها نسبت به ترانزیستورهای اثر میدان مد وارونگی سیلیکون بر روی عایق آسان‌تر است. با این حال، شیب زیرآستانه (SS) زیاد و جریان نشتی بالا در SOI-JLFET، عملکرد آن را برای کاربردهای سرعت بالا و توان پایین با مشکل مواجه کرده است. در این مقاله برای اولین بار استفاده از گیت کمکی در ناحیه درین SOI-JLFET برای بهبود SS و کاهش جریان نشتی پیشنهاد شده است. ساختار پیشنهادشده "SOI-JLFET Aug" نامیده می‌شود. انتخاب بهینه برای تابع کار گیت کمکی و طول آن، سبب بهبود هر دو پارامتر شیب زیرآستانه و نسبت جریان روشنی به جریان خاموشی نسبت به ساختار اصلی، Regular SOI-JLFET شده است. نتایج شبیه‌سازی نشان می‌دهد ساختار SOI-JLFET Aug با طول کانال nm 20، mV/dec 71 ~ SS و نسبت 1013 ~ ION/IOFF دارد. SS و نسبت ION/IOFF ساختار SOI-JLFET Aug نسبت به ساختار Regular SOI-JLFET با ابعاد مشابه، به ترتیب 14% و سه دهه بزرگی بهبود یافته‌اند. افزاره SOI-JLFET Aug می‌تواند کاندید مناسبی برای کاربردهای دیجیتال باشد.</OtherAbstract>
    <ObjectList>
      <Object Type="Keyword">
        <Param Name="Value">ترانزیستور اثر میدان بدون پیوند سیلیکون بر روی عایقتأخیر ذاتی گیتشیب زیر آستانهگیت کمکینسبت جریان حالت روشن به جریان حالت خاموش</Param>
      </Object>
    </ObjectList>
    <ArchiveCopySource DocType="Pdf">http://ijece.org/en/Article/Download/28378</ArchiveCopySource>
  </ARTICLE>
</ArticleSet>