FN ISI Export Format VR 1.0 PT C AU حامد جوي‌پا,داریوش دیدبان TI آنالیز و گسترش مدل فشرده زمان تأخیر انتشار گیت‌های NAND فناوری CMOS نانومتری در مقابل تغییرات آماری فرآیند ساخت PY 1396